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-表面觀察儀器
-掃描電子顯微鏡(SEM)
型號：Talos F200X
品牌：FEI
行業：有機化工 冶煉行業 機械鑄造 建材行業 食品制藥 固廢環保 電子電器 電池行業 新興行業 整車行業 大學科研 分析檢測
咨詢電話：4000887086
FEI Talos F200X融合了高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (STEM) 和 TEM 成像功能與能量色散 X 射線光譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。Talos F200X可在所有維度 (1D-4D) 下實現快速的 EDS 分析，以及支持快速導航的動態顯微鏡 HRTEM 成像。
Talos F200S在STEM成像上具有多功能性和高的通量。與此同時，FEI Talos F200S還提供高的穩定性和長的正常運行時間。
明場X-FEG：1.8×109 A/cm2 srad（@200kV）
總束電流：>50nA
探針電流：2nA@1nm探針（200 kV）；0.4 nA@0.31nm探針
EDS系統：2 SDD無窗設計，shutter保護
能量分辨率：≤136 eV，對Mn-Kalpha和10kcps（輸出）
快速EDS：像素駐留時間低至10 us除了這些基本特性外，本中心的Talos還裝備：
1、Ceta 4K*4K 相機；
2、用于STEM模式的環形暗場探頭（HAADF）以及BF/DF探頭；
3、Gatan 626冷凍傳輸樣品桿，單傾樣品桿以及三維重構樣品桿；
4、 單顆粒技術自動化數據收集系統EPU和電子斷層掃描技術自動化數據收集軟件Xplore3D。
Talos可以滿足冷凍單顆粒技術、冷凍電子斷層掃描技術、STEM電子斷層掃描技術的數據收集需求，如：
1、進行液氮溫度的冷凍樣品數據收集；
2、可進行單顆粒樣品數據收集；